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薄膜導(dǎo)熱測(cè)試儀
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薄膜熱物性系統(tǒng)主要特點(diǎn): $n高效便捷的薄膜材料表征手段(nm到um薄膜測(cè)試)。$n不同溫度下的測(cè)量(-170 to 200℃<-可選300℃>)$n樣品易于制備和處理$n高的測(cè)量適應(yīng)性 (樣品厚度,電阻率,沉積方式)$n一個(gè)樣品,一次同步測(cè)量即可獲得所有相關(guān)參數(shù)。$n適用于金屬、陶瓷及有機(jī)材料。
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